核心参数
						- 器件类型:二极管
- 掺杂类型:p型(硼)
- 仪器种类:实验室
- 测定原理:其它
- 测定范围:0.01~5mg/L
- 测定准确度:±1%
- 检出限 :≤0.005mg/L
- 测定时间:30样品/小时
- 批处理量:不限
产品介绍
					详情介绍
v 兼容200mm以下所有尺寸的晶圆,快速更换到不同尺寸的晶圆工艺
v 电极的适用温度范围宽,-150°C至400°C
v ICP源尺寸为65mm,180mm,300mm
v 应用方向:
Ø III-V族材料的刻蚀工艺
Ø 固体激光器InP刻蚀
Ø VCSEL GaAs/AlGaAs刻蚀
Ø 射频器件低损伤GaN刻蚀
Ø 硅 Bosch和超低温刻蚀工艺
Ø 类金刚石(DLC)沉积
Ø 二氧化硅和石英刻蚀
Ø 用特殊配置的PlasmaPro FA设备进行失效分析的干法刻蚀解剖工艺,可处理封装好的芯片、 裸晶片以及200mm晶圆
Ø 沉积高质量的PECVD氮化硅和二氧化硅薄膜,用于光子学、电介质层、钝化等诸多其它用途
Ø 用于高亮度LED生产的硬掩模沉积和刻蚀
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深圳市矢量科学仪器有限公司
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