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核心参数
- 器件类型：二极管
- 掺杂类型：p型（硼）
- 仪器种类：实验室
- 测定原理：其它
- 测定范围：0.01~5mg/L
- 测定准确度：±1%
- 检出限 ：≤0.005mg/L
- 测定时间：30样品/小时
- 批处理量：不限
产品介绍
优势
✔️ 基于双折射应力测量模型实现光学延迟和内应力分布二维测量
✔️ 包含多波长测量功能，光学延迟测量量程大
适用对象
大口径注塑光学件，石英玻璃件等
测量原理
基于偏振光应力双折射效应检测材料内部应力分布。
材料在成型过程中会由于工艺及环境条件形成不同的材料内部分布导致内应力；同时材料内部的缺陷也会导致应力集中。
内应力会导致应力双折射效应，偏振光透过材料时会发生偏振态调制，通过测量透射光的斯托克斯矢量推算出材料的应力延迟量，从而得到材料内应力分布。
SV系列技术规格
| 产品型号 | SV20 | SV50 | SV400 |
|---|---|---|---|
| 样品测量口径 | 1~10mm | 2英寸/ 60*80mm | 400*300mm 可订制化样品载台 |
| 测量模式 | 单波长/多波长 | ||
| 应力测量输出内容 | 相位延迟（°）、光学延迟（nm）综合应力（MPa）及方位角 | ||
| 测量光源 | 590nm LED光源, | 620nmLED光源, 650nm LED光源, 可选配其它光源 | 590nm, 630nm, 650nmLED光源 可选配其它光源 |
| 尺寸量测横向分辨率 | / | / | 350μm |
| 应力测量范围 | 单波长模式： 0.1~310nm光学延迟 多波长模式： 0.1~3000nm光学延迟 | 单波长模式： 0.1~310nm光学延迟 双波长模式： 0.1~3000nm光学延迟 | 0~6000nm光学延迟 |
| 方位角测量范围 | 0-180° | ||
| 重复精度波动范围 | 0.1nm/1%光学延迟，1°方位角 | ||
| 测量准确性 | 2.5nm/5%光学延迟, ±1.5 °方位角 | ||
| 应力图像解析度 | 100万像素 | ||
| 单次测量时间 | 典型： 单波长<6s； 多波长<15s | 典型： 单波长<6s 多波长<15s | 典型<15s |
| 样品载台 | 一体式样品载物台 | ||
| 设备尺寸 | 桌面式主机： 400*369*535mm 长*宽*高 | 桌面式主机： 450*369*956mm 长*宽*高 | 桌面式主机： 526*524*1198mm 长*宽*高 |
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苏州瑞霏光电科技有限公司
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